| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 5422853 | 1507927 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Cs oxide aggregation in SIMS craters in organic samples for optoelectronic application
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Investigation of Cs oxide aggregation in SIMS craters in Alq3 and CuPc samples ⺠Characterization by AFM, SIMS imaging, AES and XPS ⺠Investigation of topography variation as a function of air exposure ⺠Influence of sample composition on Cs oxide aggregation
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 606, Issues 15â16, August 2012, Pages 1244-1251
Journal: Surface Science - Volume 606, Issues 15â16, August 2012, Pages 1244-1251
نویسندگان
Khanh Q. Ngo, Patrick Philipp, John Kieffer, Tom Wirtz,