کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422936 | 1507943 | 2011 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Step bunching and step “rotation” in homoepitaxial growth of Si on Si(110)-16Â ÃÂ 2
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Surface relaxation and reconstruction - آرامسازی و بازسازی سطحSurface diffusion - انتشار سطحMolecular beam epitaxy - اپیتاکسی پرتو مولکولیStep formation and bunching - تشکیل مرحله و دسته بندیVicinal single crystal surfaces - سطوح تک بلورین Vicinalsilicon - سیلیسیم Monte carlo simulations - شبیه سازی مونت کارلوModels of surface kinetics - مدل های سینتیک سطح
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Step bunching and step rotation are observed in Si/Si(110)-16 Ã 2 homoepitaxy. ⺠Step pattern may be tuned by choosing the direction of the electric current. ⺠Polarity of the applied electrical field has almost no effect the step motion. ⺠Imperfect matching of the (16 Ã 2) reconstruction domains induces step bunching.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 838-843
Journal: Surface Science - Volume 605, Issues 7â8, April 2011, Pages 838-843
نویسندگان
Arnold Alguno, Sergey N. Filimonov, Maki Suemitsu,