کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
542342 | 871546 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Design of a window comparator with adaptive error threshold for online testing applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This paper presents a novel window comparator circuit whose error threshold adjusts adaptively with respect to its input signal levels. Advantages of adaptive error thresholds over constant or relative error thresholds in analog testing applications are discussed. Analytical equations for guiding the design of the comparator circuitry are derived. The proposed comparator circuit has been designed and fabricated using a CMOS 0.18μm technology. Measurement results of the fabricated chip are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 40, Issue 9, September 2009, Pages 1257–1263
Journal: Microelectronics Journal - Volume 40, Issue 9, September 2009, Pages 1257–1263
نویسندگان
Amit Laknaur, Rui Xiao, Sai Durbha, Haibo Wang,