کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5424850 | 1395839 | 2007 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of roughness of Cs surfaces via evaluation of the autocorrelation function
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Surface diffusion - انتشار سطحSurface structure, morphology, roughness, and topography - ساختار سطح، مورفولوژی، زبری و توپوگرافیPolycrystalline surfaces - سطوح پلی کریستالیSurface roughening - سنگ شکن سطحیComputer simulations - شبیهسازی کامپیوتریAlkali metals - فلزات قلیاییMetallic films - فیلم های فلزیPolycrystalline thin films - فیلم های نازک پلی کریستالیScanning tunneling microscopy - میکروسکوپ تونلی روبشی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
At low temperature prepared quench-condensed Cs surfaces are analysed on a nanometer scale via scanning tunneling microscopy. The analysis of surface roughness is presented with the help of the evaluation of their autocorrelation function. In order to extract the correct autocorrelation function we present the requirement regarding the scan resolution of scanning probe microscopy (SPM) images in general. This is supported by a 'numerical experiment'. Furthermore, we present some methods of deducing higher orders of autocorrelation lengths, which are needed to evaluate SPM images with non-random distribution of roughness amplitudes. These characteristic values of the autocorrelation function could play the key role in further statistical calculations, e.g., on how surface roughness alters the wetting behaviour of liquid helium adsorbed on the cesium surfaces.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 601, Issue 7, 1 April 2007, Pages 1684-1692
Journal: Surface Science - Volume 601, Issue 7, 1 April 2007, Pages 1684-1692
نویسندگان
A. Fubel, M. Zech, P. Leiderer, J. Klier, V. Shikin,