کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
542706 871569 2006 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
I–V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
I–V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires
چکیده انگلیسی

In this paper we derive the I–V characteristics of Schottky contacts based on bulk metal to semiconductor quantum wires interfaces. The obtained results show that quantum confinement is a strong reduction of the reverse saturation current when compared to conventional Schottky contacts. Numerical simulations are carried out to highlight the advantages of using these proposed heterodimensional interfaces in applications involving low-noise photodetectors and low-leakage gate electrodes.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 37, Issue 11, November 2006, Pages 1261–1264
نویسندگان
, ,