کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
544014 871698 2007 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fully digital strategy for fast calibration and test of ΣΔ ADC's
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Fully digital strategy for fast calibration and test of ΣΔ ADC's
چکیده انگلیسی

This work describes a novel test strategy that uses digital stimuli for cheap, fast, though accurate, testing of high resolution ΣΔ ADC's. Simulation results showed a detection sensitivity on specifications parameters of up to −100 dB. The proposed method can also help to reduce the cost of ADC production test, to extend test coverage and to enable built-in self-test and test-based self-calibration.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 38, Issue 1, January 2007, Pages 140–147
نویسندگان
, ,