کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
544014 | 871698 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fully digital strategy for fast calibration and test of ΣΔ ADC's
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This work describes a novel test strategy that uses digital stimuli for cheap, fast, though accurate, testing of high resolution ΣΔ ADC's. Simulation results showed a detection sensitivity on specifications parameters of up to −100 dB. The proposed method can also help to reduce the cost of ADC production test, to extend test coverage and to enable built-in self-test and test-based self-calibration.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 38, Issue 1, January 2007, Pages 140–147
Journal: Microelectronics Journal - Volume 38, Issue 1, January 2007, Pages 140–147
نویسندگان
Daniela De Venuto, Leonardo Reyneri,