کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
544055 | 871703 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Alloy splitting of Te-DX in AlxGa1−xAs analysis using the deep level transient spectroscopy technique
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The paper reports on a deep level transient spectroscopy analysis of Te-related DX centers in AlxGa1−xAs with aluminum composition x=0.40. As was shown from experimental results, the state energy of this trap shows a microscopic structure due to an alloy effect. A theoretical analysis based on a multi-step scheme has been made to explain the electron emission from a multiconfigurate center. Using this model, we derived the binding energies of the splitted Te-DX states in the alloy material studied.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 37, Issue 7, July 2006, Pages 586–590
Journal: Microelectronics Journal - Volume 37, Issue 7, July 2006, Pages 586–590
نویسندگان
L. Bouzrara, R. Ajjel, H. Mejri, M.A. Zaidi, H. Maaref,