کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5443554 | 1510865 | 2017 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
First conductive atomic force microscopy investigation on the oxide-film removal mechanism by chloride fluxes in aluminum brazing
ترجمه فارسی عنوان
بررسی میکروسکوپ نیروی اتمی بر روی مکانیسم حذف اکسید فیلم توسط جیوه کلرید در جوش آلومینیوم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 138, September 2017, Pages 12-16
Journal: Scripta Materialia - Volume 138, September 2017, Pages 12-16
نویسندگان
Ziang Zhu, Yiqing Chen, Alan A. Luo, Lihua Liu,