کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5448898 | 1512115 | 2016 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope: A review
ترجمه فارسی عنوان
پراش کیکوتی انتقال در میکروسکوپ الکترونی اسکن: بررسی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
Transmission Kikuchi diffraction (TKD), also known as transmission electron backscatter diffraction (t-EBSD), has received significant interest for the characterisation of nanocrystalline materials and nanostructures. In this paper, we will review the development of TKD, including forescatter detector imaging and ongoing parameter optimisation, as well as some of the current applications of the technique. A comparison to other microanalysis techniques is also included, highlighting their relative strengths and weaknesses and their complementarity with TKD. Finally, potential applications of the technique and possible future developments are discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: R: Reports - Volume 110, December 2016, Pages 1-12
Journal: Materials Science and Engineering: R: Reports - Volume 110, December 2016, Pages 1-12
نویسندگان
Glenn C. Sneddon, Patrick W. Trimby, Julie M. Cairney,