کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545450 | 1450554 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ESD testing of devices, ICs and systems
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
This tutorial discusses several ways of ESD testing for devices, ICs and systems. A good understanding of the methods and the physics is required for relating test results to each other. The tutorial ends with an outlook on extensions of the current methods and a discussion on required ESD qualification levels.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 941–945
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 941–945
نویسندگان
T. Smedes,