کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
545450 1450554 2009 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ESD testing of devices, ICs and systems
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ESD testing of devices, ICs and systems
چکیده انگلیسی

This tutorial discusses several ways of ESD testing for devices, ICs and systems. A good understanding of the methods and the physics is required for relating test results to each other. The tutorial ends with an outlook on extensions of the current methods and a discussion on required ESD qualification levels.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 941–945
نویسندگان
,