دانلود رایگان مقالات نشریه ISI قابلیت اطمینان میکرو الکترونیک

Degradation of TiAlNiAu as ohmic contact metal for GaN HEMTs

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Multiscale simulation of aluminum thin films for the design of highly-reliable MEMS devices

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A new methodology for the identification of ball bond degradation during high-temperature aging tests on devices in standard plastic packages

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Microstructure evolution observation for SAC solder joint: Comparison between thermal cycling and thermal storage

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterisation of power modules ceramic substrates for reliability aspects

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Accelerated lifetime test of RF-MEMS switches under ESD stress

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Design for reliability of power electronics modules

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Fabrication process simulation and reliability improvement of high-brightness LEDs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability analysis of InGaN Blu-Ray laser diode

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Life-time estimation of high-power blue light-emitting diode chips

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Analysis of humidity effects on the degradation of high-power white LEDs

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A novel accelerated test technique for assessment of mechanical reliability of solder interconnects

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterisation and modelling of parasitic effects and failure mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterization of stress degradation effects and thermal properties of AlGaN/GaN HEMTs with photon emission spectral signatures

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability analysis of AlGaN/GaN HEMT on SopSiC composite substrate under long-term DC-life test

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

GaN HEMT reliability

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Displacement current sensor for contact and intermittent contact scanning capacitance microscopy

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Trapped charge and stress induced leakage current (SILC) in tunnel SiO2 layers of de-processed MOS non-volatile memory devices observed at the nanoscale

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A study of electrical characteristic changes in MOSFET by electron beam irradiation

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Net integrity checking by optical localization techniques

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Magnetic microscopy for 3D devices: Defect localization with high resolution and long working distance on complex system in package

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Source electrode evolution of a low voltage power MOSFET under avalanche cycling

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Analysis of the dynamic behavior changes of supercapacitors during calendar life test under several voltages and temperatures conditions

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

1300 V, 2 ms pulse inductive load switching test circuit with 20 ns selectable crowbar intervention

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Analysis of deep submicron VLSI technological risks: A new qualification process for professional electronics

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Accelerated active ageing test on SiC JFETs power module with silver joining technology for high temperature application

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

An investigation into the reliability of power modules considering baseplate solders thermal fatigue in aeronautical applications

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Instable mechanisms during unclamped operation of high power IGBT modules

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Estimation of SiC JFET temperature during short-circuit operations

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability considerations in pulsed power resonant conversion

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Thermal imaging of smart power DMOS transistors in the thermally unstable regime using a compact transient interferometric mapping system

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Finite element analyses assisted Scanning Joule Expansion Microscopy on interconnects for failure analysis and reliability investigations

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterization of ageing failures on power MOSFET devices by electron and ion microscopies

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Quasi hermetic packaging for new generation of spaceborn microwave equipment

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability challenges of automotive power electronics

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Numerical prediction of failure paths at a roughened metal/polymer interface

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Dielectric charging in silicon nitride films for MEMS capacitive switches: Effect of film thickness and deposition conditions

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Capacitive RF MEMS analytical predictive reliability and lifetime characterization

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Comparing drop impact test method using strain gauge measurements

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Heat management for power converters in sealed enclosures: A numerical study

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reading distance degradation mechanisms of near-field RFID devices

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

NBTI and hot carrier effect of SOI p-MOSFETs fabricated in strained Si SOI wafer

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

NBTI and hot-carrier effects in accumulation-mode Pi-gate pMOSFETs

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Behavior of hot carrier generation in power SOI LDNMOS with shallow trench isolation (STI)

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Experimental study about gate oxide damages in patterned MOS capacitor irradiated with heavy ions

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effects of electromagnetic near-field stress on SiGe HBT’s reliability

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reversible dielectric breakdown in ultrathin Hf based high-k stacks under current-limited stresses

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Investigation of defects introduced by static and dynamic hot carrier stress on SOI partially depleted body-contact MOSFETs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

On the temperature and voltage dependence of short-term negative bias temperature stress

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Influence of various process steps on the reliability of PMOSFETs submitted to negative bias temperature instabilities

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Impact of O–Si–O bond angle fluctuations on the Si–O bond-breakage rate

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Study for pulse stress NBTI characteristics degradation stress

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Process dependence of BTI reliability in advanced HK MG stacks

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

CMOS logic gate performance variability related to transistor network arrangements

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Ensuring the reliability of electron beam crosslinked electric cables by the optimization of the dose depth distribution with Monte Carlo simulation

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Comparison and evaluation of newest failure rate prediction models: FIDES and RIAC 217Plus

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller’s reliability improvement

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Fast reliability qualification of SiP products

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Correlation between EOS customer return failure cases and Over Voltage Stress (OVS) test method

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electrical aging behavioral modeling for reliability analyses of ionizing dose effects on an n-MOS simple current mirror

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

ESD testing of devices, ICs and systems

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure mechanisms of discrete protection device subjected to repetitive electrostatic discharges (ESD)

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Physical analysis, trimming and editing of nanoscale IC function with backside FIB processing

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure analysis of video processor defined as No Fault Found (NFF): Reproduction in system level and advanced analysis technique in IC level

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

An advanced quality and reliability assessment approach applied to thermal stress issues in electronic components and assemblies

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electrical modeling of the effect of beam profile for pulsed laser fault injection

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Investigation on marginal failure characteristics and related defects analysed by soft defect localization

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

IR thermography and FEM simulation analysis of on-chip temperature during thermal-cycling power-metal reliability testing using in situ heated structures

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Jitter analysis of PLL-generated clock propagation using Jitter Mitigation techniques with laser voltage probing

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Laser THz emission microscope as a novel tool for LSI failure analysis

11 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Breakdown characterization of gate oxides in 35 and 70 Å BCD8 smart power technology

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Impact and damage on deep sub-micron CMOS technology induced by substrate current due to ESD stress

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

MEMS reliability: Where are we now?

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A methodology to extract failure rates for low-k dielectric breakdown with multiple geometries and in the presence of die-to-die linewidth variation

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Investigation of stress distribution in via bottom of Cu-via structures with different via form by means of submodeling

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electromigration in width transition copper interconnect

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Do ESD fails in systems correlate with IC ESD robustness?

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Percolation theory applied to PZT thin films capacitors breakdown mechanisms

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A Modelisation of the temperature dependence of the Fowler–Nordheim current in EEPROM memories

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Statistical RTS model for digital circuits

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Modeling charge variation during data retention of MLC Flash memories

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Extraction of 3D parasitic capacitances in 90 nm and 22 nm NAND flash memories

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effects of the electrical stress on the conduction characteristics of metal gate/MgO/InP stacks

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2009 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه