دانلود رایگان مقالات نشریه ISI قابلیت اطمینان میکرو الکترونیک

On state breakdown in PHEMTs and its temperature dependence

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability Potential Of Epoxy Based Encapsulants For Automotive Applications

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A simple moisture diffusion model for the prediction of optimal baking schedules for plastic SMD packages

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Moisture diffusion in Printed Circuit Boards: Measurements and Finite- Element- Simulations

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Vibration lifetime modelling of PCB assemblies using steinberg model

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Correlation between Experimental Results and FE Simulations to Evaluate Lead-Free BGA Assembly Reliability

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

New experimental approach for failure prediction in electronics: Topography and deformation measurement complemented with acoustic microscopy

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Isolating failing sites in IC packages using time domain reflectometry: Case studies

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Prediction of Delamination Related IC & Packaging Reliability Problems

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure mechanisms and qualification testing of passive components

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Performances and limitations analyses of PHEMT and MHEMT for applications in high bit rate fiber-optic systems

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A 3000 hours DC Life Test on AlGaN/GaN HEMT for RF and microwave applications

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Safe operating area of GaAs MESFET and PHEMT for amplification in overdrive operating conditions

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability of Contacts for Press-Pack High-Power Devices

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability investigations on LTG-GaAs photomixers for THz generation based on optical heterodyning

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55 μm bulk semiconductor optical amplifier

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

DC-to-RF dispersion effects in GaAs- and GaN-based heterostructure FETs: performance and reliability issues

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Image alignment for 3D reconstruction in a SEM

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Die repackaging for failure analysis

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Non-destructive identification of open circuit in wiring on organic substrate with high wiring density covered with solder resist

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Intermittent contact scanning capacitance microscopy-An improved method for 2D doping profiling

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

SRAM cell defect isolation methodology by sub micron probing technique

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterisation of dopants distribution using electron holography and FIB-based lift-off preparation

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Localization of Marginal Circuits for Yield Diagnostics Utilizing a Dynamic Laser Stimulation Probing System

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Characterization of a 0.13 μm CMOS Link Chip using Time Resolved Emission (TRE)

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A novel fast and versatile temperature measurement system for LDMOS transistors

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Dc and low frequency noise analysis of hot-carrier induced degradation of low complexity 0.13 μm CMOS bipolar transistors

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Dynamic stress-induced high-frequency noise degradations in nMOSFETs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Thermal and electrostatic reliability characterization in RF MEMS switches

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure analysis of micro-heating elements suspended on thin membranes

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Investigation of charging mechanisms in metal-insulator-metal structures

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Biaxial initial stress characterization of bilayer gold RF-switches

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure predictive model of capacitive RF-MEMS

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

FTIR spectroscopy for the hermeticity assessment of micro-cavities

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Out of plane vs in plane flexural behaviour of thin polysilicon films: Mechanical characterization and application of the Weibull approach

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Failure Analysis Issues in Microelectromechanical Systems (MEMS)

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Specification and use of pulsed current profiles for ultracapacitors power cycling

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Electrical Performance Evaluation of FIB Edited Circuits through Chip Backside Exposing Shallow Trench Isolations

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Non-destructive Testing Technique for MOSFET's Characterisation during Soft-Switching ZVS Operations

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Comparative analysis of accelerated ageing effects on power RF LDMOS reliability

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Trench insulated gate bipolar transistors submitted to high temperature bias stress

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability screening through electrical testing for press-fit alternator power diode in automotive application

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Innovative Methodology for Predictive Reliability of Intelligent Power Devices Using Extreme Electro-thermal Fatigue

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Experimental and Numerical investigation about SEB/SEGR of Power MOSFET

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability enhancement with the aid of transient infrared thermal analysis of smart Power MOSFETs during short circuit operation

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Assessment of the Trench IGBT reliability: low temperature experimental characterization

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Extraction of Accurate Thermal Compact Models for Fast Electro-Thermal Simulation of IGBT Modules in Hybrid Electric Vehicles

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effects of uni-axial mechanical stress on IGBT characteristics

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Hot-carrier reliability of 20V MOS transistors in 0.13 μm CMOS technology

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Voltage stress-induced hot carrier effects on SiGe HBT VCO

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Stress Mechanism about Field Lightning Surge of High Voltage BJT Based Line Driver for ADSL System

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Elimination of surface state induced edge transistors in high voltage NMOSFETs for flash memory devices

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Pre- and post-BD electrical conduction of stressed HfO2/SiO2 MOS gate stacks observed at the nanoscale

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

The impact of static and dynamic degradation on SOI “smart-cut” floating body MOSFETs

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Hot carrier and soft breakdown effects on LNA performance for ultra wideband communications

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Radiation source dependence of performance degradation in thin gate oxide fully-depleted SOI n-MOSFETs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Impacts of the recovery phenomena on the worst-case of damage in DC/AC stressed ultra-thin NO gate-oxide MOSFETs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Degradation of high-K LA2O3 gate dielectrics using progressive electrical stress

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Dielectric reliability of stacked Al2O3-HfO2 MIS capacitors with cylinder type for improving DRAM data retention characteristics

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Hydrogen-related influence of the metallization stack on characteristics and reliability of a trench gate oxide

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Trends and challenges to ESD and Latch-up designs for nanometer CMOS technologies

9 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Tunnel oxide degradation under pulsed stress

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Gate stress effect on low temperature data retention characteristics of split-gate flash memories

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Robust, versatile, direct low-frequency noise characterization method for material/process quality control using cross-shaped 4-terminal devices

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability predictions in electronic industrial applications

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability for Recessed Channel Structure n-MOSFET

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Investigation on seal-ring rules for IC product reliability in 0.25-μm CMOS technology

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Study of Area Scaling Effect on Integrated Circuit Reliability Based on Yield Models

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Layout dependency induced deviation from Poisson area scaling in BEOL dielectric reliability

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Lifetime prediction on the base of mission profiles

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Basic Principles for Managing Foundry Programs

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Light Emission to Time Resolved Emission For IC Debug and Failure Analysis

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Dynamic Laser Stimulation Case Studies

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Assessment of the Analytical Capabilities of Scanning Capacitance and Scanning Spreading Resistance Microscopy Applied to Semiconductor Devices

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

STEM role in failure analysis

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Localization and physical analysis of dielectric weaknesses for state-of-the-art deep trench based DRAM products

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Oxide charge measurements in EEPROM devices

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Advanced electrical analysis of embedded memory cells using atomic force probing

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Circuit-internal signal measurements with a needle sensor

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Two-dimensional Dopant Profiling and Imaging of 4H Silicon Carbide Devices by Secondary Electron Potential Contrast

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Innovative packaging technique for backside optical testing of wire-bonded chips

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Seebeck Effect Detection on Biased Device without OBIRCH Distortion Using FET Readout

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

ElectroStatic Discharge Fault Localization by Laser Probing

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Issues in electromagnetic compatibility of integrated circuits: emission and susceptibility

8 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Photon emission microscopy of inter/intra chip device performance variations

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

NIR laser stimulation for dynamic timing analysis

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability improvement by the suppression of keyhole generation in W-plug vias

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effect of vacuum break after the barrier layer deposition on the electromigration performance of aluminum based line interconnects

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Effect of test condition and stress free temperature on the electromigration failure of Cu dual damascene submicron interconnect line-via test structures

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Reliability challenges for copper low-k dielectrics and copper diffusion barriers

7 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

ESD circuit model based protection network optimisation for extended-voltage NMOS drivers

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A 3-D Circuit Model to evaluate CDM performance of ICs

5 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

A Dedicated TLP Set-Up to Investigate the ESD Robustness of RF Elements and Circuits

4 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه

Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure

6 صفحه فرمت PDF سال انتشار : 2005 دانلود متن کامل مقاله ISI سفارش ترجمه