کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9672200 | 1450564 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Failure mechanisms and qualification testing of passive components
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In the European funded project PROCURE (Program for the development of passive devices used in rough environments) a generic spectrum of passive components needed for electronic control units has been developed. The failure mechanisms, the technological challenges, and the test requirements are highlighted below.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2005, Pages 1626-1632
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2005, Pages 1626-1632
نویسندگان
H.A. Post, P. Letullier, T. Briolat, R. Humke, R. Schuhmann, K. Saarinen, W. Werner, Y. Ousten, G. Lekens, A. Dehbi, W. Wondrak,