کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9672185 1450564 2005 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of a 0.13 μm CMOS Link Chip using Time Resolved Emission (TRE)
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Characterization of a 0.13 μm CMOS Link Chip using Time Resolved Emission (TRE)
چکیده انگلیسی
The Picosecond Imaging Circuit Analysis (PICA) technique using the Superconducting Single-Photon Detector (SSPD) allows the detailed characterization of pulse width variations along the delay chain of a high speed Self Timing Interface (STI). Pulses gradually shrink and finally disappear along the delay chain.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9–11, September–November 2005, Pages 1550-1553
نویسندگان
, , , , , , ,