کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9672185 | 1450564 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of a 0.13 μm CMOS Link Chip using Time Resolved Emission (TRE)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The Picosecond Imaging Circuit Analysis (PICA) technique using the Superconducting Single-Photon Detector (SSPD) allows the detailed characterization of pulse width variations along the delay chain of a high speed Self Timing Interface (STI). Pulses gradually shrink and finally disappear along the delay chain.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2005, Pages 1550-1553
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9â11, SeptemberâNovember 2005, Pages 1550-1553
نویسندگان
Franco Stellari, Peilin Song, John Hryckowian, Otto A. Torreiter, Steve Wilson, Phil Wu, Alberto Tosi,