کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9672181 1450564 2005 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
STEM role in failure analysis
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
STEM role in failure analysis
چکیده انگلیسی
This technique is essentially used for failure root cause research and is particularly interesting when combined with elemental analysis, as it gives high resolution results when performed on thin samples.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 9–11, September–November 2005, Pages 1526-1531
نویسندگان
, ,