کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545495 | 1450554 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Net integrity checking by optical localization techniques
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
To determine the failing net out of a list of potential candidates provided by the ATPG diagnostic tool, probing techniques such as TRE or LVP are commonly used. To use these techniques, complex electrical setups using tester have to be implemented to control the failing net to its failing value. This paper present an alternative technique to check net integrity and to orient failure location based on optical techniques. Experimental results and simulation presented in this study demonstrate the relevance and the efficiency of this technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 1175–1181
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 1175–1181
نویسندگان
G. Haller, A. Machouat, D. Lewis, V. Pouget,