کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545499 | 1450554 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Three cases will point out as entire lots of unreliable microelectronic devices may reach the final user, without any warning. The conclusion is a warning against the many risks introduced for more and more small and medium end users of microelectronic devices by the lack of reliability culture.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 1196–1199
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 49, Issues 9–11, September–November 2009, Pages 1196–1199
نویسندگان
G. Mura, M. Vanzi,