کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5456922 1515116 2017 34 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Computer simulations analysis for determining the polarity of charge generated by high energy electron irradiation of a thin film
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل شبیه سازی کامپیوتر برای تعیین قطبیت شار تولید شده توسط تابش الکترون با انرژی بالا یک فیلم نازک
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد دانش مواد (عمومی)
چکیده انگلیسی
Detailed simulations are necessary to correctly interpret the charge polarity of electron beam irradiated thin film patch. Relying on systematic simulations we provide guidelines and movies to interpret experimentally the polarity of the charged area, to be understood as the sign of the electrostatic potential developed under the beam with reference to a ground electrode. We discuss the two methods most frequently used to assess charge polarity: Fresnel imaging of the irradiated area and Thon rings analysis. We also briefly discuss parameter optimization for hole free phase plate (HFPP) imaging. Our results are particularly relevant to understanding contrast of hole-free phase plate imaging and Berriman effect.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 100, September 2017, Pages 10-22
نویسندگان
, , , , , , , , ,