کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545927 | 871859 | 2013 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of statistical parameter set selection on the statistical compact model accuracy: BSIM4 and PSP case study
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Statistical compact modeling (SCM) is necessary for variability aware design at nanometer regime. An extensive study has been carried out to evaluate the impact of the statistical parameter set selection on the statistical accuracy of two widely used industry standard compact models: BSIM4 and PSP. Different statistical parameter generation strategies have been employed to examine the impact of different statistical parameter selection on both device and circuit simulation accuracy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 44, Issue 1, January 2013, Pages 7–14
Journal: Microelectronics Journal - Volume 44, Issue 1, January 2013, Pages 7–14
نویسندگان
Negin Moezi, Daryoosh Dideban, Binjie Cheng, Scott Roy, Asen Asenov,