کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466706 | 1518297 | 2017 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Simultaneous scanning tunneling microscopy and synchrotron X-ray measurements in a gas environment
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ تونل زنی همزمان و اندازه گیری های اشعه ایکس مصنوعی در یک محیط گاز
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
A combined X-ray and scanning tunneling microscopy (STM) instrument is presented that enables the local detection of X-ray absorption on surfaces in a gas environment. To suppress the collection of ion currents generated in the gas phase, coaxially shielded STM tips were used. The conductive outer shield of the coaxial tips can be biased to deflect ions away from the tip core. When tunneling, the X-ray-induced current is separated from the regular, 'topographic' tunneling current using a novel high-speed separation scheme. We demonstrate the capabilities of the instrument by measuring the local X-ray-induced current on Au(1â¯1â¯1) in 800â¯mbar Ar.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 182, November 2017, Pages 233-242
Journal: Ultramicroscopy - Volume 182, November 2017, Pages 233-242
نویسندگان
Rik V. Mom, Willem G. Onderwaater, Marcel J. Rost, Maciej Jankowski, Sabine Wenzel, Leon Jacobse, Paul F.A. Alkemade, Vincent Vandalon, Matthijs A. van Spronsen, Matthijs van Weeren, Bert Crama, Peter van der Tuijn, Roberto Felici,