کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466710 | 1518297 | 2017 | 32 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Probing the effect of electron channelling on atomic resolution energy dispersive X-ray quantification
ترجمه فارسی عنوان
بررسی اثر کانال کردن الکترون بر اندازه گیری انرژی اشعه ایکس پراکنده انرژی اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
ترجمه چکیده
پیشرفت در پایداری میکروسکوپ، اصلاح آبراهایی و طراحی آشکارساز اکنون امکان پذیر است که برای رسیدن به اشعه ایکس پراش اشعه ایکس برای نمونه های انعطاف پذیر دوز فراهم شود. این نقشه ها جزئیات کیفی قابل توجهی در مقیاس اتمی نشان می دهد که جایی که عناصر در یک نمونه مشخص قرار دارند. متاسفانه، در حالیکه کانالینگ الکترون برای داده های قطعنامه اتمی مورد سوء استفاده قرار می گیرد، این فرآیند بسیار ساده تر باعث می شود که تصاویر به صورت کمی بیشتر تفسیر شوند، تا اینکه بدون کانال کردن الکترون رخ دهد. در اینجا ما شیب نمونه کوچک را به عنوان وسیله ای برای سرکوب کانال کردن و بهبود کمیت سنجی ترکیب پیشنهاد می کنیم، در حالی که با حفظ وضوح در مقیاس اتمی. تنها با شناخت ترکیب و ضخامت نمونه امکان تعیین پیکربندی اتمی در هر ستون وجود دارد. اثرات ستون های اتمی همسایه با ترکیب متفاوتی و کانال بندی باقی مانده بر توانایی ما برای استخراج ترکیب ستون ستون توسط ستون نیز مورد بحث قرار گرفته است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Advances in microscope stability, aberration correction and detector design now make it readily possible to achieve atomic resolution energy dispersive X-ray mapping for dose resilient samples. These maps show impressive atomic-scale qualitative detail as to where the elements reside within a given sample. Unfortunately, while electron channelling is exploited to provide atomic resolution data, this very process makes the images rather more complex to interpret quantitatively than if no electron channelling occurred. Here we propose small sample tilt as a means for suppressing channelling and improving quantification of composition, whilst maintaining atomic-scale resolution. Only by knowing composition and thickness of the sample is it possible to determine the atomic configuration within each column. The effects of neighbouring atomic columns with differing composition and of residual channelling on our ability to extract exact column-by-column composition are also discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 182, November 2017, Pages 264-275
Journal: Ultramicroscopy - Volume 182, November 2017, Pages 264-275
نویسندگان
Katherine E. MacArthur, Hamish G. Brown, Scott D. Findlay, Leslie J. Allen,