دانلود رایگان مقاله ISI : یک روش جدید برای شناسایی و اصلاح شیب نمونه در میکروسکوپ الکترونیک میکروسکوپ انتقال تصویربرداری میدان دید

A new method to detect and correct sample tilt in scanning transmission electron microscopy bright-field imaging

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 173, February 2017, Pages 76–83