کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466864 | 1518305 | 2017 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Design and commissioning of an aberration-corrected ultrafast spin-polarized low energy electron microscope with multiple electron sources
ترجمه فارسی عنوان
طراحی و راه اندازی یک میکروسکوپ الکترونی با کمترین انرژی اسپین - پلاریزه شده با استفاده از الکترونی چندگانه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
We describe the design and commissioning of a novel aberration-corrected low energy electron microscope (AC-LEEM). A third magnetic prism array (MPA) is added to the standard AC-LEEM with two prism arrays, allowing the incorporation of an ultrafast spin-polarized electron source alongside the standard cold field emission electron source, without degrading spatial resolution. The high degree of symmetries of the AC-LEEM are utilized while we design the electron optics of the ultrafast spin-polarized electron source, so as to minimize the deleterious effect of time broadening, while maintaining full control of electron spin. A spatial resolution of 2Â nm and temporal resolution of 10Â ps (ps) are expected in the future time resolved aberration-corrected spin-polarized LEEM (TR-AC-SPLEEM). The commissioning of the three-prism AC-LEEM has been successfully finished with the cold field emission source, with a spatial resolution below 2Â nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 174, March 2017, Pages 89-96
Journal: Ultramicroscopy - Volume 174, March 2017, Pages 89-96
نویسندگان
Weishi Wan, Lei Yu, Lin Zhu, Xiaodong Yang, Zheng Wei, Jefferson Zhe Liu, Jun Feng, Kai Kunze, Oliver Schaff, Ruud Tromp, Wen-Xin Tang,