کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5466873 1518303 2017 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Introduction to a special issue on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy in honour of Robert Sinclair and Nestor J. Zaluzec on the occasion of their 70th and 65th birthdays
ترجمه فارسی عنوان
مقدمه ای بر یک موضوع ویژه در مورد مرزهای میکروسکوپ الکترونی اصلاح شده برانگیختن به خاطر رابرت سینکلر و نستور جی زولوزک به مناسبت تولد هفتم و 65
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش مقاله
مقدمه ای بر یک موضوع ویژه در مورد مرزهای میکروسکوپ الکترونی اصلاح شده برانگیختن به خاطر رابرت سینکلر و نستور جی زولوزک به مناسبت تولد هفتم و 65
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Page 1
نویسندگان
, , ,