کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466875 | 1518303 | 2017 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An electron energy loss spectrometer based streak camera for time resolved TEM measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We propose an experimental setup based on a streak camera approach inside an energy filter to measure time resolved properties of materials in the transmission electron microscope (TEM). In order to put in place the streak camera, a beam sweeper was built inside an energy filter. After exciting the TEM sample, the beam is swept across the CCD camera of the filter. We describe different parts of the setup at the example of a magnetic measurement. This setup is capable to acquire time resolved diffraction patterns, electron energy loss spectra (EELS) and images with total streaking times in the range between 100 ns and 10 μs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 5-10
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 5-10
نویسندگان
Hasan Ali, Johan Eriksson, Hu Li, S. Hassan M. Jafri, M.S. Sharath Kumar, Jim Ãgren, Volker Ziemann, Klaus Leifer,