کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466881 | 1518303 | 2017 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Composition measurement in substitutionally disordered materials by atomic resolution energy dispersive X-ray spectroscopy in scanning transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری ترکیب در مواد اختلال جایگزین توسط طیف سنجی اشعه ایکس پراکندگی انرژی اتمی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی انتقال
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The increasing use of energy dispersive X-ray spectroscopy in atomic resolution scanning transmission electron microscopy invites the question of whether its success in precision composition determination at lower magnifications can be replicated in the atomic resolution regime. In this paper, we explore, through simulation, the prospects for composition measurement via the model system of AlxGa1âxAs, discussing the approximations used in the modelling, the variability in the signal due to changes in configuration at constant composition, and the ability to distinguish between different compositions. Results are presented in such a way that the number of X-ray counts, and thus the expected variation due to counting statistics, can be gauged for a range of operating conditions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 52-62
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 52-62
نویسندگان
Z. Chen, D.J. Taplin, M. Weyland, L.J. Allen, S.D. Findlay,