کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466898 | 1518303 | 2017 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantification by aberration corrected (S)TEM of boundaries formed by symmetry breaking phase transformations
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The present contribution gives a review of recent quantification work of atom displacements, atom site occupations and level of crystallinity in various systems and based on aberration corrected HR(S)TEM images. Depending on the case studied, picometer range precisions for individual distances can be obtained, boundary widths at the unit cell level determined or statistical evolutions of fractions of the ordered areas calculated. In all of these cases, these quantitative measures imply new routes for the applications of the respective materials.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 194-199
Journal: Ultramicroscopy - Volume 176, May 2017, Pages 194-199
نویسندگان
D. Schryvers, E.K.H. Salje, M. Nishida, A. De Backer, H. Idrissi, S. Van Aert,