کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
547947 872070 2008 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A scalable σ-space based methodology for modeling process parameter variations in analog circuits
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A scalable σ-space based methodology for modeling process parameter variations in analog circuits
چکیده انگلیسی
Experiments showed that ALAMO method is more accurate than Monte Carlo analysis and σ-space method, and scales well even for analog circuits involving hundreds of fingered MOSFETs. LRA and PEA are effective in decreasing the modeling problem complexity reducing the modeling time by more than 70% without significantly influencing accuracy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 39, Issue 12, December 2008, Pages 1785-1796
نویسندگان
, , ,