کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
547947 | 872070 | 2008 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A scalable Ï-space based methodology for modeling process parameter variations in analog circuits
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Experiments showed that ALAMO method is more accurate than Monte Carlo analysis and Ï-space method, and scales well even for analog circuits involving hundreds of fingered MOSFETs. LRA and PEA are effective in decreasing the modeling problem complexity reducing the modeling time by more than 70% without significantly influencing accuracy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 39, Issue 12, December 2008, Pages 1785-1796
Journal: Microelectronics Journal - Volume 39, Issue 12, December 2008, Pages 1785-1796
نویسندگان
Hui Zhang, Yang Zhao, Alex Doboli,