کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6903736 1446992 2018 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Bayesian inference for mining semiconductor manufacturing big data for yield enhancement and smart production to empower industry 4.0
ترجمه فارسی عنوان
استنتاج بیزی برای نیمه هادی معدن تولید داده های بزرگ برای افزایش عملکرد و تولید هوشمند برای تقویت صنعت 4.0
کلمات کلیدی
رویکرد بیزی، تولید نیمه هادی، چند ستون افزایش عملکرد، تجزیه و تحلیل داده های بزرگ، تولید هوشمند،
ترجمه چکیده
استنتاج بیزی برای یکپارچه سازی نمونه گیبس و ضریب کاپا کوهن برای تحلیل داده های بزرگ نیمه هادی برای افزایش عملکرد و تولید هوشمند در تنظیمات واقعی طراحی شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر نرم افزارهای علوم کامپیوتر
چکیده انگلیسی
Bayesian inference integrating Gibbs sampling and Cohen's kappa coefficient is developed for analyzing semiconductor big data for yield enhancement and smart production in real settings.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Soft Computing - Volume 68, July 2018, Pages 990-999
نویسندگان
, , ,