کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945148 | 1450457 | 2018 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Architectures of bulk built-in current sensors for detection of transient faults in integrated circuits
ترجمه فارسی عنوان
معماری از سنسور های جریان اصلی ساخته شده در فله برای تشخیص گسل های گذرا در مدارهای مجتمع
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Today's integrated circuits are liable to operate under transient faults created either by radiation or malicious sources of perturbation. Among the many techniques for the detection of transient faults, Bulk Built-In Current Sensors (BBICS) present attractive low-cost and efficient features for the protection of circuits. This article provides a survey of published BBICS architectures and compares them with regard to their sensitivities in detecting transient faults. Moreover, a new dynamic BBICS architecture is introduced with improved detection sensitivity, negligible power consumption, and reduced area overhead.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 71, January 2018, Pages 70-79
Journal: Microelectronics Journal - Volume 71, January 2018, Pages 70-79
نویسندگان
Rodrigo Possamai Bastos, Leonel Acunha Guimarães, Frank Sill Torres, Laurent Fesquet,