کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6945451 | 1450514 | 2018 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of solder resist dissolution on the joint reliability of ENIG surface and Sn-Ag-Cu solder
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 87, August 2018, Pages 75-80
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 87, August 2018, Pages 75-80
نویسندگان
Hyunju Lee, Cheolmin Kim, Cheolho Heo, Chiho Kim, Jae-Ho Lee, Yangdo Kim,