| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 6945955 | 1450521 | 2018 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization and modeling of dynamic variability induced by BTI in nano-scaled transistors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Impact of a single charge on Vt of Nanowire Î fet & Finfet from 3D electrostatic simulations.153
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 100-108
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 100-108
نویسندگان
Xavier Garros, Antoine Laurent, Alexandre Subirats, X. Federspiel, E. Vincent, Gilles Reimbold,