کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6945981 1450521 2018 14 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Design for reliability of generic sensor interface circuits
ترجمه فارسی عنوان
طراحی برای قابلیت اطمینان مدارهای رابط سنسور عمومی
کلمات کلیدی
رابط سنسور، قابلیت اطمینان، طراحی قابل اطمینان، طراحی کراس لایه، مدل سازی رفتاری، تکنیک های جبران خسارت
ترجمه چکیده
برنامه های متعددی نیاز به استفاده از مدارهای مجتمع قوی و قابل اعتماد دارند. به منظور توسعه چنین مدارهای، انواع مختلفی از تأثیرات باید در نظر گرفته شود و در صورت لزوم جبران شود. برای بررسی کامل در مورد تمام مسائل مربوط به قابلیت اطمینان، مدار باید در سطوح مختلف انتزاع و با سیستم کامل در نظر گرفته شود. این الزامات در این کار با استفاده از روش های طراحی یک لایه برای توسعه یک رابط سنسور عمومی به عنوان مثال برای یک مدار مجتمع پیچیده مورد توجه قرار گرفته است. در طول توسعه، یک طراحی قابل اطمینان مورد استفاده قرار می گیرد و جلوه های جسمی عمده در نظر گرفته می شود که رفتار کلی سیستم را تغییر می دهد. علاوه بر این، تکنیک های مدل سازی به تأثیرات پورت و اجزای مدار از یک سطح انتزاع به دیگری اعمال می شود. روش های مخالفت و تکنیک های جبران برای طراحی مدار قابل اعتماد نیز در مورد ترانزیستور و سطح سیستم مورد تحلیل قرار گرفته است. نتیجه یک مدار رابط حسگر است که می تواند مورد استفاده قرار گیرد برای بررسی تمام اثرات مورد علاقه و اقدامات مناسب مناسب در سطوح مختلف انتزاع.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Numerous applications require the use of robust and reliable integrated circuits. In order to develop such circuits, a wide variety of influences need to be considered and also compensated if necessary. For a complete consideration of all reliability issues, the circuit has to be investigated on different levels of abstraction and together with the complete overlying system. These requirements are addressed in this work by using cross-layer design methods for the development of a generic sensor interface as an example for a complex integrated circuit. During the development, a reliability-aware design is used and major physical effects are taken into account, which alter the overall behavior of the system. Furthermore, modeling techniques are applied to port influences and circuit components from one level of abstraction to another. Possible countermeasures and compensation techniques for a reliable circuit design are also analyzed on transistor and system level. The result is a sensor interface circuit, which can be used to investigate all effects of interest and suitable countermeasures on different abstraction levels.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 80, January 2018, Pages 184-197
نویسندگان
, , , , , ,