کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946121 | 1450522 | 2017 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ tensile testing of tin (Sn) whiskers in a focused ion beam (FIB)/scanning electron microscope (SEM)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 79, December 2017, Pages 314-320
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 79, December 2017, Pages 314-320
نویسندگان
Renuka Vallabhaneni, Ehsan Izadi, Carl R. Mayer, C. Shashank Kaira, Sudhanshu S. Singh, Jagannathan Rajagopalan, Nikhilesh Chawla,