کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946352 1450542 2016 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Requirements in power cycling for precise lifetime estimation
ترجمه فارسی عنوان
الزامات در دوچرخه سواری قدرت برای برآورد طول عمر دقیق
ترجمه چکیده
در این مقاله دوچرخه سواری قدرت به عنوان یک روش برای ارزیابی قابلیت اطمینان اتصالات در دستگاه های الکترونیکی قدرت مورد بحث قرار می گیرد. در حالی که این رویکرد یک ابزار قابل اعتماد برای بررسی پتانسیل بهبود برای فن آوری های جایگزین جایگزین و رد کردن نقص های طراحی است، تخمین دقیق در مورد طول عمر در این زمینه هنوز به چالش کشیدن است. بسیاری از سوالات هنوز در بحث هستند، مانند خستگی بسیار زیاد سیکل، کاربرد قانون قاچاقچیان، یا تاثیرات در زمان و جلوه های متقاطع با شوک های مکانیکی یا رطوبت. این کار مهندسان نرم افزار را با یک حاشیه ایمنی مبهم می کند. در ملاحظات اساسی در مورد دوچرخه سواری قدرت شرح داده شده است. مقدمه دو برنامه کاربردی با پروفایل های بار مختلف را نشان می دهد. بخش 2 توضیح می دهد روش اندازه گیری دما. در بخش 3 الزامات نظری برای دقت اندازه گیری داده شده است، مانع حداقل تاخیر اندازه گیری و راه حل های ممکن ارزیابی می شود. در نهایت اثرات پیری و شتاب آن در دستگاه های مختلف در بخش 4 مورد بحث قرار می گیرد. در نتیجه پیشنهادات برای روش های دوچرخه سواری قدرت و بازنگری معیارهای پایان عمر صورت می گیرد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
This paper discusses power cycling as a method to evaluate the reliability of interconnections in power electronic devices. While the approach proved a reliable tool for investigating the potential of improvement for alternative interconnect technologies and rejecting design flaws, precise estimations about lifetime in the field are still challenging. Many questions are still in discussion, such as ultra-high cycle fatigue, applicability of Miner's rule, or the influence of on-time and cross-effects with mechanical shocks or humidity. This leaves application engineers with a blurred safety margin. In the following basic considerations of power cycling are described. The introduction shows two applications with different load profiles. Section 2 explains methods of temperature measurement. In Section 3 theoretical requirements for measurement accuracy are given, the obstacle minimal measurement delay and possible workarounds are evaluated. Finally aging effects and their acceleration in different devices are discussed in Section 4. In the conclusion suggestions for power cycling methods and a revision of the end-of-life criteria are made.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 58, March 2016, Pages 82-89
نویسندگان
, , , , ,