کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946650 | 1450545 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Use of a silicon drift detector for cathodoluminescence detection
ترجمه فارسی عنوان
استفاده از یک آشکارساز ریز سیلیکون برای تشخیص کاتدولومینسانس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
آشکارساز ریزش سیلیکون، کاتودولومینسانس، میکروسکوپ الکترونی اسکن،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Cathodoluminescence, the study of light emission of a sample under the electron beam of a scanning electron microscope, is an efficient technique for luminescent material characterization and for defect analysis in semiconductors. However, the purchase of full cathodoluminescence equipment is not always possible for economic reasons. This study shows that it is possible to use a silicon drift detector to detect visible light, instead of buying a cathodoluminescence system. First, the SDD response is characterized with a light illuminator and then the behaviour is confirmed with a scintillating material. When the excitation level is kept low enough, the response of the silicon drift detector to light is an intense peak at low energy in the X-ray spectrum. Several scintillating materials with different sensitivities are used to show that the variation of the count rate of the low energy peak with the excitation level is related to the quantity of emitted light. This method allows the characterization of the homogeneity of a luminescent sample.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1569-1573
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issues 9â10, AugustâSeptember 2015, Pages 1569-1573
نویسندگان
M. Béranger,