کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946716 | 1450547 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Robustness Validation - A physics of failure based approach to qualification
ترجمه فارسی عنوان
اعتبار سنجی اعتماد - فیزیک روش مبتنی بر شکست به صلاحیت
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تأیید اعتماد، مشخصات ماموریت، واجد شرایط بودن قابلیت اطمینان،
ترجمه چکیده
قابلیت اطمینان محصول برای موفقیت یک شرکت ضروری است. گواهی محصول امروزه بر اساس استانداردهایی است که به دنبال رویکرد رانده شده با استرس است، به این معنا است که آزمون استرس قبل از تعریف با شرایط استرس پیش تعیین شده. با این حال، الزامات قابلیت اطمینان افزایش یافته است، در حالی که در عین حال، هر دو طراحی اجزای نیمه هادی و استفاده از این اجزا در برنامه ها به طور فزاینده ای محدود شده است. این توسعه این پرسش را مطرح می کند که تا چه حد روشهای استاندارد هنوز برای ارزیابی قابلیت اطمینان مناسب هستند. اعتبار سنجی پایداری یک رویکرد به یک معیار مداخله ناشی از شکست است که عمدتا توسط صنعت خودرو آغاز شده است اما گستره وسیعی از کاربرد را دارد. مقاله مقدمه ای بر ایده های پایه اعتبار سنجی استقامت است. بعضی از محدودیت ها شامل جنبه های آماری نیز مورد بحث قرار می گیرد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Product reliability is crucial to the success of a company. Product qualification today is based on standards that follow a stress-test driven approach, meaning pre-defined stress tests with pre-defined stress conditions. However, reliability requirements have increased, while at the same time both designs of semiconductor components and usage of these components in the applications have increasingly been pushed to the limits. This development raises the question, how far the standard procedures are still suitable for reliability assessment. Robustness Validation is an approach to a failure-mechanism-driven qualification that was primarily initiated by the automotive industry but has a much wider range of applicability. The paper will give an introduction to the basic ideas of Robustness Validation. Some limitations including statistical aspects will also be discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1648-1654
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1648-1654
نویسندگان
W. Kanert,