کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6946878 | 1450547 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impact of active thermal management on power electronics design
ترجمه فارسی عنوان
تاثیر مدیریت حرارتی فعال در طراحی الکترونیک قدرت
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
استفاده از تراشه، مدیریت حرارتی فعال قابلیت اطمینان،
ترجمه چکیده
طراحی سیستم قدرت الکترونیکی به طور معمول محدودیت حرارتی را با توجه به تلفات کلی و جریان پیک محدود می کند. برای حفظ حداکثر جریان، فقط در طی گذرها به دست می آید، سیستم به طور معمول غلبه دارد. مدیریت حرارتی فعال برای کنترل حداکثر درجه حرارت و نوسان دما برای کاهش شکست هایی که عمدتا توسط آنها ایجاد می شود استفاده می شود. در این مقاله پیشنهاد شده است که از مدیریت حرارتی فعال برای کاهش ضررهای سوئیچینگ یا انتقال آنها به دستگاه های دارای تنش کم در طی گذرگاه ها استفاده شود، مانند یک ماژول می تواند بدون افزایش محدودیت های حرارتی، بدون در نظر گرفتن محدودیت های حرارتی، کاهش می یابد از این رو یک طراحی مطلوب و مقرون به صرفه از سیستم الکترونیکی قدرت به دست می آید.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Power electronic system design is typically constrained by the thermal limitation so by the overall losses and the peak current. To stay within the maximum current, reached only during transients, the system is typically overrated. Active thermal management is used to control the maximum temperature and the temperature swing to reduce failures that are mostly caused by them. In this paper it is proposed to use the active thermal management to reduce the switching losses or to move them to less stressed devices, during transients, such as a module can reach an higher current, without violating thermal constraints, and the need of overdesign can be reduced. Hence an optimal and cost effective design of power electronics system is achieved.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1935-1939
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issues 9â10, SeptemberâOctober 2014, Pages 1935-1939
نویسندگان
M. Andresen, M. Liserre,