Using the recursive subdivision and the advancing front technique for the discretization of multi-phase microstructures

در این مقاله، تقسیم بندی ریزپردازنده در ابتدا توسط یک تصویر دیجیتالی که از توموگرافی کامپیوتری یا هر دستگاه مشابه اسکنر دیگر به دست می آید، ارائه می شود. واکسلهای مرزی در نمایندگی دیجیتال شناسایی شده و سپس با یک مثلث مرزی از وضوح مشابه به عنوان تصویر دیجیتال اصلی جایگزین می شوند. این ترانگولاسیون پس از آن به بخش تقسیم بازگشتی تبدیل می شود تا سطح صاف میکروساختار را بهبود بخشد و سپس با توجه به یک رزولوشن مشخص شده توسط کاربر دوباره شناسایی می شود. در نهایت، درونی ساختار میکروساختار گسسته شده است. عملکرد روش پیشنهادی بر روی نمونه نشان داده شده است.