کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7001766 | 1454784 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Measurement of nanometer-thick lubricating films using ellipsometric microscopy
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری فیلم های روان کننده با ضخامت نانومتری با استفاده از میکروسکوپ اپیلتومتریک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
چکیده انگلیسی
A method based on vertical-objective-based ellipsometric microscopy (VEM) is presented for measuring lubricant film thickness in nanometer sliding gaps. It provides an image of nanometer-thick lubricating films in real time at high lateral and thickness resolutions without any special layers. The ellipsometric image is directly converted into the film image by using a piezo-stage displacement method combined with a rotating compensator ellipsometry method. The accuracy of thickness measurement is about 1â¯nm. The VEM-based method revealed that nanometric deformation of the sliding surfaces arises in nanometric gaps even if the load is low, which significantly affects the lubrication properties in small gaps. This method is useful for clarifying the lubrication phenomena in nanometric sliding gaps.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Tribology International - Volume 122, June 2018, Pages 8-14
Journal: Tribology International - Volume 122, June 2018, Pages 8-14
نویسندگان
Kenji Fukuzawa, Yusuke Sasao, Katsuya Namba, Chihiro Yamashita, Shintaro Itoh, Hedong Zhang,