کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
703192 | 891128 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microstructure of diamond–SiC nanocomposites determined by X-ray line profile analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Microstructure of diamond–SiC nanocomposites determined by X-ray line profile analysis Microstructure of diamond–SiC nanocomposites determined by X-ray line profile analysis](/preview/png/703192.png)
چکیده انگلیسی
Diamond composites with nanosize diamond crystals and nanosize SiC matrix were obtained at 8 GPa and temperatures varied between 1800 and 2000 °C. Multiple Whole Profile fitting method applied to X-ray diffractograms of sintered composites provided information on crystallite size and population of dislocations. When the temperature was increased at a constant pressure, it led to a growth of crystallite sizes in both phases and reduced population of dislocations. Porosity was limiting hardness of the specimens indicating importance of sample preparation prior to sintering nanosize diamond powders.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Diamond and Related Materials - Volume 15, Issue 9, September 2006, Pages 1452–1456
Journal: Diamond and Related Materials - Volume 15, Issue 9, September 2006, Pages 1452–1456
نویسندگان
J. Gubicza, T. Ungár, Y. Wang, G. Voronin, C. Pantea, T.W. Zerda,