کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7117009 1461214 2016 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Lifetime prediction of electrical connectors under multiple environment stresses of temperature and particulate contamination
ترجمه فارسی عنوان
پیش بینی طول عمر اتصالات الکتریکی تحت تنش های محیطی چند درجه حرارت و آلودگی ذرات
کلمات کلیدی
اتصالات برق تست طول عمر تسریع شده، پیش بینی طول عمر،
ترجمه چکیده
اتصالات برق نقش مهمی در سیستم های الکترونیکی و ارتباطی بازی می کنند. به عنوان آنها اغلب در محیط جو محیط زیست قرار می گیرند، برای آنها بسیار مشکل است که موجب ناراحتی تماس برق شوند. ضروری است مدلسازی قابلیت اطمینان و پیش بینی طول عمر را انجام دهید. در این مقاله، روش تست طول عمر شتاب که بر اساس روش طراحی یکنواخت طراحی شده است، برای به دست آوردن داده های تخریب تحت تنش های محیطی چند درجه حرارت و آلودگی ذرات برای اتصالات الکتریکی طراحی شده است. بر اساس داده های تخریب، زندگی شبه زندگی می تواند به دست آورد. سپس مدل اعتماد با تجزیه و تحلیل شبه زندگی به دست آمد. بر این اساس، عملکرد قابلیت اطمینان و قابلیت اطمینان عمر قابل اعتماد تنظیم شده است، و طول عمر قابل اعتماد از اتصالات تحت تنش های محیطی چند درجه حرارت و آلودگی ذرات می تواند برای اتصالات الکتریکی پیش بینی شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
چکیده انگلیسی
Electrical connectors play a significant role in the electronic and communication systems. As they are often exposed in the atmosphere environment, it is extremely easy for them to cause electrical contact failure. It is essential to carry out the reliability modeling and predict the lifetime. In the present work, the accelerated lifetime testing method which is on account of the uniform design method was designed to obtain the degradation data under multiple environmental stresses of temperature and particulate contamination for electrical connectors. Based on the degradation data, the pseudo life can be acquired. Then the reliability model was established by analyzing the pseudo life. Accordingly, the reliability function and reliable lifetime function were set up, and the reliable lifetime of the connectors under the multiple environment stresses of temperature and particulate contamination could be predicted for electrical connectors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: The Journal of China Universities of Posts and Telecommunications - Volume 23, Issue 5, October 2016, Pages 61-67, 81
نویسندگان
, , , , ,