Ultrahigh-accuracy measurement of refractive index curves of optical materials using interferometry technology

تداخل سنجی سفید سفید نور طیف طیفی و یک سیستم تداخل دو لایه لیزر برای اندازه گیری منحنی های شاخص انکسار مواد نوری در محدوده طول موج گسترده گزارش شده است. برای تعیین شاخص شکست انبساط مواد، تداخل سنجی مورد استفاده قرار گرفت. الگوریتم یکپارچه برای محاسبه منحنی شاخص انکسار از شاخص بازدهی گروه به دست آمده پیشنهاد شده است. یکپارچگی مقدار شاخص شکست را برای یک طول موج مشخصی فراهم می کند که می تواند توسط سیستم تداخل لیزر دو لایه به دست آید. برای محاسبه اختلاف مسیر نوری گروهی از روش اصلاح طیف استفاده شده است. روش پیشنهادی اندازه گیری دقت فوق العاده منحنی منحنی انکساری بهتر از 0.0002 را انجام داد، و آن را برای کاربرد در تعیین پارامترهای نوری مواد جدید جذاب می کرد.