کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7699953 1496798 2018 20 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of advanced ALD-based thin film barriers for organic electronics using ToF-SIMS analysis
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Characterization of advanced ALD-based thin film barriers for organic electronics using ToF-SIMS analysis
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 59, August 2018, Pages 21-26
نویسندگان
, , , ,