کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7701209 1496830 2015 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of interface trap dynamics responsible for hysteresis in organic thin-film transistors
ترجمه فارسی عنوان
مشخصه پویایی تله رابط مسئول هیستریتز در ترانزیستورهای نازک آلومینیومی آلی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 27, December 2015, Pages 192-196
نویسندگان
, , , ,