کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7701209 | 1496830 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of interface trap dynamics responsible for hysteresis in organic thin-film transistors
ترجمه فارسی عنوان
مشخصه پویایی تله رابط مسئول هیستریتز در ترانزیستورهای نازک آلومینیومی آلی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترانزیستورهای فیلم نازک آلی، هیسترزیس، دامنه رابط تعیین مشخصات،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 27, December 2015, Pages 192-196
Journal: Organic Electronics - Volume 27, December 2015, Pages 192-196
نویسندگان
Yin Sun, Lining Zhang, Zubair Ahmed, Mansun Chan,