کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7747366 1498327 2012 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low temperature dielectric properties of Ce0.8Gd0.2O1.9 films
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی الکتروشیمی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Low temperature dielectric properties of Ce0.8Gd0.2O1.9 films
چکیده انگلیسی
► Low T dielectric properties of Ce0.8Gd0.2O1.9 films with/out substrate were measured. ► The grain boundary conductivity of both types of films freezes out below 150 K. ► Below 150 K, the effective dielectric constant of both types of films is 20.5±2.5. ► The dielectric constant of self-supported films is weakly unstable between 80-140 K. ► Defect ordering may cause the unstable dielectric constant of self-supported films.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Ionics - Volume 211, 15 March 2012, Pages 12-19
نویسندگان
, , , , ,