| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 7833748 | 1503524 | 2018 | 25 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
XPS study of ion irradiated and unirradiated CeO2 bulk and thin film samples
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 448, 1 August 2018, Pages 154-162
Journal: Applied Surface Science - Volume 448, 1 August 2018, Pages 154-162
نویسندگان
Konstantin I. Maslakov, Yury A. Teterin, Aleksej J. Popel, Anton Yu. Teterin, Kirill E. Ivanov, Stepan N. Kalmykov, Vladimir G. Petrov, Peter K. Petrov, Ian Farnan,