کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7836006 | 1503536 | 2018 | 24 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optical gradients in a-Si:H thin films detected using real-time spectroscopic ellipsometry with virtual interface analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Optical gradients in a-Si:H thin films detected using real-time spectroscopic ellipsometry with virtual interface analysis Optical gradients in a-Si:H thin films detected using real-time spectroscopic ellipsometry with virtual interface analysis](/preview/png/7836006.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 436, 1 April 2018, Pages 779-784
Journal: Applied Surface Science - Volume 436, 1 April 2018, Pages 779-784
نویسندگان
Maxwell M. Junda, Laxmi Karki Gautam, Robert W. Collins, Nikolas J. Podraza,