کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7844917 1507862 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Surface analysis of topmost layer of epitaxial layered oxide thin film: Application to delafossite oxide for oxygen evolution reaction
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل سطح بالای لایه اپتیکسال لایه نازک اکسید فیلم: کاربرد به اکسید دلفوسیت برای واکنش تکامل اکسیژن
کلمات کلیدی
ساختار لایه ای، اکسید دلافوسیت، فیلم نازک، طیف سنجی پراکندگی اتمی، طیف سنجی جذب اشعه ایکس، محاسبات نظری عملکردی تراکم،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 668, February 2018, Pages 93-99
نویسندگان
, , , , , ,