کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7873991 | 1509425 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging nanostructures in organic semiconductor films with scanning transmission X-ray spectro-microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
بیومتریال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠We image organic semiconductor films with scanning transmission X-ray microscopy. ⺠NEXAFS spectroscopy provides a powerful contrast mechanism for organic materials. ⺠STXM generates quantitative composition maps. ⺠Novel detectors provide simultaneous surface and bulk information. ⺠We image molecular conformation via linear dichroism.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Synthetic Metals - Volume 161, Issues 23â24, January 2012, Pages 2516-2520
Journal: Synthetic Metals - Volume 161, Issues 23â24, January 2012, Pages 2516-2520
نویسندگان
Benjamin Watts, Christopher R. McNeill, Jörg Raabe,